HAST試驗箱與高低溫試驗之間的區(qū)別看完你就懂了

點擊次數(shù)：2085 更新時間：2020-07-15

　　目前，在集成電路IC領(lǐng)域，環(huán)境可靠性測試設(shè)備主要有高低溫試驗箱以及HAST試驗箱。但為什么HAST試驗箱會成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢?兩個試驗箱之間的區(qū)別究竟在哪呢?下面就讓我們一起來了解一下吧。

　　這由于HAST試驗箱結(jié)合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護物料(塑封料或絲印)或沿外保護物料與金屬導電層之間界面滲入，本測試用于識別封裝內(nèi)部的失效機制，并且是破壞性的。

　　高低溫試驗箱可分為高低溫運行測試、高低溫貯存測試、高低溫交變測試、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試等，雖然可測試的項目較多，可測試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命。

　　但只是單一的溫濕度測試不夠準確的測試產(chǎn)品在氣壓下的使用情況。而HAST試驗箱測試集溫度-濕度-壓力(非飽和可調(diào))一體，多方面測試集成電路IC，評估產(chǎn)品的失效機制。

　　高低溫試驗箱的產(chǎn)品優(yōu)勢：

　　1、極限測試溫度可達300℃，低溫-200℃，電耗低;

　　2、低溫長期1000小時以上不結(jié)霜;

　　3、可編程控制，可通過互聯(lián)網(wǎng)、WIFI、手機APP等監(jiān)控設(shè)備運行情況。

　　HAST試驗箱的產(chǎn)品優(yōu)勢：

　　1、濕度可調(diào)式溫度-濕度-壓力一體試驗設(shè)備，測試穩(wěn)定性高;

　　2、可配置多個測試端口供給用戶產(chǎn)品帶電測試;

　　3、設(shè)備升溫時自動預排空氣潔凈度，確保箱內(nèi)純凈度;

　　4、箱體采用耐高壓設(shè)計技術(shù)，確保設(shè)備、操作人員安全。

　　那么在看完上述內(nèi)容之后大家是否對這兩個試驗箱有更多的了解呢?那么在兩者之間的選擇上就不用我們多說相信各位心里已經(jīng)有更好的答案了。

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